參數(shù)
可靠的AutoID用于元素識(shí)別；準(zhǔn)確的定量-所有計(jì)數(shù)率；峰值偏移和分辨率變化穩(wěn)定保證在1,000到100,000 cps之間；以非常高的計(jì)數(shù)率進(jìn)行全面的軟件校正，包括堆積校正；集成的分析硬件鏈，可以實(shí)現(xiàn)快速、可靠的分析性能
X射線能譜分析，簡(jiǎn)寫EDS，通常通過配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用，是用來對(duì)材料微區(qū)成分元素種類與含量進(jìn)行分析：利用電子束與物質(zhì)作用時(shí)產(chǎn)生的特征X射線，來提供樣品化學(xué)組成方面的信息，可定性、半定量檢測(cè)大部分元素（Be4-PU94），可進(jìn)行表面污染物的分析。
適用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析
希格瑪檢測(cè)（江蘇）有限公司于2020年12月創(chuàng)建，位于長(zhǎng)江之濱的無錫江陰市臨港科創(chuàng)園，致力于金屬材料檢測(cè)服務(wù)和檢測(cè)技術(shù)的研發(fā)。
